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簡要描述：BD-86A半導體材料電阻率測定儀是根據(jù)四探針測試原理研制成功的新型半導體電阻率測試器，適合半導體器件廠、材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率、方塊電阻（薄層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻、導電薄層電阻，具有測量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便
更新時間：2025-02-10瀏覽次數(shù)：2954產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
BD-86A半導體材料電阻率測定儀
一、概述
BD-86A型半導體電阻率測試儀是根據(jù)四探針測試原理研制成功的新型半導體電阻率測試器，適合半導體器件廠、材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率、方塊電阻（薄層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻、導電薄層電阻，具有測量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便、價格低等特點。
儀器分為電氣箱和測試架兩大部分，電氣箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表，高穩(wěn)定、高精度的恒流源和高性能的電源變換裝置組成，測量結果由LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定，輸入阻抗*。在片狀材料測試時，具有系數(shù)修正功能，使用方便。測試架分為固定式和手持式兩種，探頭的探針具有寶石導向，測量精度高、游移率小、耐磨和使用壽命長等特點，而且探針壓力可調，特別適合薄片材料的測量。
二、BD-86A半導體材料電阻率測定儀主要技術指標
1.測量范圍：
電阻率：10-3--103Ω㎝（可擴展到105Ω㎝），分別率10-4Ω㎝。
方塊電阻：10-2--104Ω/□（可擴展到106Ω/□），分辨率10-3Ω/□。
薄層金屬電阻：10-4--105Ω，分辨率10-4Ω。
2.數(shù)字電壓表：
電壓表量程為3檔，分別是20mV檔（分辨率10μV)；200mV檔(分辨率100μV)；2V檔（分辨率1mV)。電壓表測量誤差±0.3%讀數(shù)±1字，輸入阻抗大于109Ω。
3.恒流源：
恒流源由交流供電，輸出直流電流0---100mA連續(xù)可調。恒流源量程為5檔，分別是10μA、100μA、1mA、10mA、100mA；分辨率對應是10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA。電流誤差±0.3%讀數(shù)±2字。
4.測試架：（可選件）
測試架分為固定和手持兩種，可測半導體材料尺寸為直徑Φ15--Φ600㎜。測試探頭探針間距S=1㎜，探針機械游移率±0.3%，探針壓力可調。
5.顯示：3?位LED數(shù)字顯示0-1999，能自動顯示單位、小數(shù)點、極性、過載。
6.電性能：電性能模擬考核誤差﹤±0.3%，符合ASTM規(guī)定指標。
7.電源：220V±10%，50Hz或60Hz,功耗﹤30W。
8.電氣箱外形尺寸：440×320×120㎜。
三、工作原理
直流四探針法測試原理簡介如下：
?。?）體電阻率測量：
如圖：當1、2、3、4根金屬探針排成一直線時，并以一定壓力壓在半導體試樣上，在1、4兩處探針間通過電流I，則2、3探針間產(chǎn)生電壓差V。
材料的電阻率ρ=（V/I）×C （Ω㎝） .......3-1
式3-1中：C為探針系數(shù)，由探針幾何位置決定，當試樣電阻率分布均勻，試樣尺寸滿足半無限大條件時，
C=2π÷=2πFSP......3-2
式3-2中：S1、S2、S3分別為探針1與2、2與3、3與4之間的距離。當S1=S2=S3=1mm時，則FSP=1，C=2π。若電流取I=C時，
電阻率ρ=V,可由數(shù)字電壓表直接讀出。
?、?、塊狀和棒狀晶體電阻率測量：由于塊狀和棒狀樣品外形尺寸與探針間距比較，合乎半無限大的邊界條件，電阻率值可以直接由公式3-1、3-2式求出。
②、薄片電阻率測量：由于薄片樣品厚度和探針的間距相比，不能忽略。測量時要提供樣品的厚度、形狀和測量位置的修正系數(shù)。
電阻率值可由下面公式得出：
ρ=V/I×2πS×FSP×G(W/S)×D(d/s)= ρ0×G(W/S)×D(d/s)...3-3
式中：ρ0 為塊形體電阻率，W為試片厚度，S為探針間距，G（W/S）為樣品厚度修正函數(shù)，D(d/s)為樣品形狀和測量位置修正函數(shù)。
?、邸⒎綁K電阻、薄層電阻測量：當半導體薄層尺寸滿足半無限大平面條件時：
R□=π/ln2×(V/I)=4.532(V/I) ........3-4
若取I1=4.532I,則R□值可由電壓表直接讀出。
注意：以上的測量都在標準溫度(230 C)下進行，若在其他溫度環(huán)境中測量，應乘以該材料的溫度修正系數(shù)FT。
FT=1-CT（T230） ..........3-5
式中：CT為材料的溫度系數(shù)。（請根據(jù)不同材料自行查找）
?。?）金屬電阻測試：本儀器也可用作金屬電阻的測量，采用四端子電流-電壓降法，能方便的測量金屬電阻R,測量范圍從100μΩ---200K
四、儀器結構
本儀器為臺式結構，分為電氣箱和測試架兩大部分。
【1】電氣箱為儀器主要電器部分，電氣箱前面板如圖4-1所示：
圖中：1-電源開關 2-顯示屏 3-電流量程開 4-電壓量程開關 5-工作方式開關 6-測量選擇開關 7-信號輸入端口 8-調零電位器 9-電流調節(jié)電位器 10-電流開關 11-極性轉換開關
電氣箱后面板如圖4-2所示：
前面板功能說明：
1-(POWER)-電源220V控制開關。
2-LED顯示屏：3 ?位LED數(shù)字顯示（0-1999），自動顯示小數(shù)點、單位和過載，測試方塊電阻時，單位mΩcm當作mΩ/□，測量金屬電阻時，單位mΩ㎝當作mΩ。
3-(I RANGE)-電流量程開關5檔（10μA/100μA/1mA/10mA/100mA)；4-(V RANGE)-電壓量程開關3檔（20mV/200mA/2V)；
5-(FUNCTION)-工作方式開關5檔，從左到右分別是“4.53"檔為輸入電壓值×4.532，測量方塊電阻用；“6.28"檔為輸入電壓值×0.628，測量電阻率用；“I"檔為輸入電壓×1，測量金屬電阻用；“I ADJ"電流調節(jié)檔，和電流調節(jié)電位器配合使用，用于調節(jié)輸出電流；“CAL"自校檔，自校值“199X"。
6-(MEAS.SEL)-測量選擇開關為兩檔開關，“SHORT"短路檔、“MEAS"測量檔。
7-(INPOT)-信號輸入端口為5芯端口，是電壓降信號輸入和恒流電流輸出的端口。
8-（ZERO ADJ)-調零電位器，當我們在測試時，如果樣品接觸良好，在不加電的情況下，數(shù)字電壓表讀數(shù)應歸零，如有偏差時，可通過調零電位器調節(jié)歸零。
9-(I ADJ)-電流調節(jié)電位器，可連續(xù)調節(jié)電流輸出值0---1000（滿刻度），與工作方式開關“I ADJ"配合使用，也可作為修正系數(shù)輸入用。
10-（CURRENT)-電流開關為電流加電開關，按入時，電流輸出；退出時，電流斷開。
11-（POLARITY)-極性轉換開關，可改變電流輸出的正負極性。
【2】測試架：測試架分為固定和手持式兩種，根據(jù)使用環(huán)境的不同可自行選擇，固定式測試架適合高精度的測量，探頭固定在專用的測試架上，在實驗室條件下，進一步提高了測量精度（見圖4-4）。手持式最大的優(yōu)點是攜帶方便、測量方便，可直接在生產(chǎn)現(xiàn)場使用（見圖4-3）。
手持式測試探頭簡圖4-3所示：
圖中：1-測試導線 2-手柄 3-壓力調節(jié)環(huán) 4-測試支架 5-探頭和探針
固定式測試架簡圖（4-4）所示：
圖(4-4)固定式測試架
圖中：1-支桿 2-支架塊 3-滑塊 4-滑塊調節(jié)（上下） 5-探頭支架 6-探頭和探針 7-可移動平臺（前后） 8-滑槽 9-底板 10-支架塊固定桿 11-探頭導線
五、使用和操作
（一）、測試準備：
1.將儀器和試樣放置在溫度230C±20C，濕度﹤65%的工作環(huán)境中。
2. 測試架和電氣箱用輸入輸出連線連接好，儀器接通電源，工作方式開關置于短路位置，電流開關退出，接通220V電源，儀器預熱半小時。
3.測試架調好位置，放上試樣，使探頭與試樣良好接觸。
(二)、測試：
1.將工作方式開關置于“I調節(jié)"，按入電流開關，并調節(jié)電流電位器，使數(shù)字顯示為你需要的電流值。注意：測試塊狀、棒狀晶體和薄層方塊電阻試樣時，請調節(jié)電流電位器到“1000"，當測量薄片電阻率時，請根據(jù)試樣厚度，查表得到修正系數(shù)值（厚度修正系數(shù)表見說明書末頁），調節(jié)電位器到修正值。例如硅片厚度0.23㎜，查表得到0.1659，調節(jié)電流電位器，使顯示值為166。
2.根據(jù)被測材料，選擇電壓和電流量程，使顯示值達到我們需要的精度。
3.測量選擇開關置于“測量"位置，根據(jù)不同的試樣，工作方式開關置于不同位置，①塊狀、棒狀樣品和薄片樣品電阻率測試請把開關放到“6.28"檔；②薄層電阻測試請放到“4.53"檔；③金屬電阻測試請放到“I"檔。
4.檢查顯示屏顯示是否為000，可以通過調零電位器，調整零位，使顯示值為“000"。
5.現(xiàn)在按入電流開關，應有顯示，可配合電壓和電流量程開關再一次調整，使顯示值為我們需要的精度值。然后極性開關反轉，把兩次顯示值平均后的值，即是我們要測量的值。
（三）、注意事項：
1.以上電阻率測試是在環(huán)境溫度23℃下的值，如測試時環(huán)境溫度有變，請考慮溫度修正（溫度修正系數(shù)Ft請用戶根據(jù)不同材料自行查找，見公式3-5），輸入K值時，K=Ft×K(修正到23℃）。實際測量，在輸入電流值時，請乘以Ft值為電流實際輸入值。例如：塊狀樣品測試，“I ADJ"輸入值為1000，此時我們應輸入1000×Ft,測得的電阻率值是23℃時的修正值。
2.當工作方式開關置于“6.28"進行測量，測量顯示值為電阻率；當開關置于“4.53"時，顯示值應讀為R/□；在“I"檔測量金屬電阻，顯示值應讀為電阻R。
3.測試架上的探頭為易損件，測量時請小心加壓，測試完畢，請及時升起探頭。
六、復校和維修
1.本儀器有自校功能，儀器內部設有精密電阻，當工作在自校檔，按入電流開關后，顯示自校值199X±6個字。自校檔可作為檢查儀器精度使用，為保證儀器測試精度，請定期對儀器進行復校，尤其是儀器進過劇烈震動和環(huán)境溫度突變后，發(fā)現(xiàn)超差請及時送修。
2.測試探頭為易損件，請定期按照國標JJG508-87中規(guī)定，對探頭進行復校。如超差，應更換新的探頭。
3.本儀器也可按照國標或ASTM84-73規(guī)定的指標和實驗方法進行復校。
七、儀器包裝及附件
1.電氣箱一臺
2.測試架一臺（固定、手持可選）
3.四探針探頭一個（已安裝在測試架上）
4.使用說明書一份
5.電源線一根
6.合格證一張
7.四端子測試線一根
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